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產品圖片 產品名稱型號 品牌/產地 主要技術指標 價格(元)
涂層測厚儀TIME2500 涂層測厚儀-TIME2500 時代儀器 完全替代TT220 洽詢
涂層測厚儀(磁性+渦流兩用)CTG260 涂層測厚儀(磁性+渦流兩用)-CTG260 嘉儀儀器 配置F1或N1探頭, 可磁性/渦流自行轉換 洽詢
薄膜測厚儀Millimar 1240 薄膜測厚儀-Millimar 1240 德國馬爾Mahr 顯示: 模擬/數字 洽詢
涂層測厚儀(磁性法)CTG220 涂層測厚儀(磁性法)-CTG220 嘉儀儀器 測量范圍:0~1250μm 洽詢
薄膜測厚儀Millimar S1840 薄膜測厚儀-Millimar S1840 德國馬爾Mahr 動態測量:Max, Min, Max-Min, Max+Min,平均值 洽詢
高性能X射線熒光測量儀XAN 250/252 高性能X射線熒光測量儀-XAN 250/252 德國菲希爾Fischer RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量 洽詢
智能涂層測厚儀TT260+w101 智能涂層測厚儀-TT260+w101 時代儀器 使用環境溫度:0~40℃  洽詢
STODA涂層測厚儀STD2100 STODA涂層測厚儀-STD2100 國產 測量范圍:0~1250μm 洽詢
臺式涂層測厚儀MMS PC2 臺式涂層測厚儀-MMS PC2 德國菲希爾Fischer 用于涂層厚度測量和材料測試 洽詢
X 射線熒光測試儀XDV -μ X 射線熒光測試儀-XDV -μ 德國菲希爾Fischer 可以對100μm或更小的結構進行分析 洽詢
涂層測厚儀Elcometer 456 涂層測厚儀-Elcometer 456 英國易高 最小基體厚度 300μm(12mils),除非有特殊的校準調節  洽詢
高性能X射線熒光測試儀XDV -SDD 高性能X射線熒光測試儀-XDV -SDD 德國菲希爾Fischer 可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素 洽詢
X射線熒光測試儀器XUL X射線熒光測試儀器-XUL 德國菲希爾Fischer 用于電鍍行業中的鍍層厚度測量 洽詢
X 射線熒光測量系統X-RAY 4000 X 射線熒光測量系統-X-RAY 4000 德國菲希爾Fischer 連續的在線測量和分析 洽詢
手持式涂層測厚儀PMP10 手持式涂層測厚儀-PMP10 德國菲希爾Fischer 測量多種基材上的,包括小型結構和粗糙表面上的導電涂層的厚度 洽詢
X 射線熒光測試儀XDAL X 射線熒光測試儀-XDAL 德國菲希爾Fischer 不適合測量十分細小的結構 洽詢
高性能X射線熒光測試儀XUV  773 高性能X射線熒光測試儀-XUV 773 德國菲希爾Fischer 配有真空室,適用于材料無損分析 洽詢
涂層測厚儀TT290 涂層測厚儀-TT290 時代儀器 測量范圍 0-1250μm 洽詢
涂鍍層測厚儀QNix4500 涂鍍層測厚儀-QNix4500 德國尼克斯 顯示精度 1μm;  0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm 
 
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涂鍍層測厚儀QNix4200 涂鍍層測厚儀-QNix4200 德國尼克斯 顯示精度 1μm  ; 0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm 

工作溫度  -10 - +60℃ 

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共 105 條 6 頁
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